Инженерные основы измерений нанометровой точности

Name: Инженерные основы измерений нанометровой точности
Brand: Интеллект
SKU: 2461869
Availability: OutOfStock

(0 отзывов)

недоступно к заказу

Добавить в лист ожидания

Книга известного специалиста Национальной Физической Лаборатории (NPL, Великобритания) последовательно рассматривает инженерные аспекты достижения нанометровой точности измерений перемещений и параметров рельефа поверхности, контроля параметров макрообъектов с помощью координатно-измерительных машин, различных зондовых, оптических и электронных средств измерений (включая вопросы обеспечения прослеживаемое измерений длины с помощью лазерной интерферометрии и калибровочных образцов). Также рассмотрены вопросы прецизионных измерений масс. Для студентов и преподавателей технических университетов, специалистов промышленных предприятий, инженеров-разработчиков и исследователей.

Артикул

2461869

Издательство

Интеллект

Тип обложки

твердый переплет

Автор

Лич Ричард

Штрих код

9785915591195

Год

2012